1、降低鹽霧交變試驗(yàn)箱的常見故障，就需要掌握這種常見故障產(chǎn)造成緣故；許多電子元器件伴隨著工作中期限增加很有可能產(chǎn)生衰退性的無效，而鹽霧交變試驗(yàn)箱的元器件衰退性無效所包含的范疇范圍廣。

 

　　2、鹽霧交變試驗(yàn)箱關(guān)鍵有以下好多個特點(diǎn)：一些主要參數(shù)伴隨著上班時(shí)間的增加或辦公環(huán)境的變化，其主要參數(shù)產(chǎn)生飄移，導(dǎo)致一會兒工作中一切正常，一會兒工作中異常的狀況。造成這種常見故障的緣故關(guān)鍵為：

 

　　1、因?yàn)樨?fù)載超出其內(nèi)部承受力，和應(yīng)用維護(hù)保養(yǎng)不善而造成的結(jié)果。

 

　　2、電子元器件無效廣泛的是存有質(zhì)量與技術(shù)性缺點(diǎn)。

 

　　3、環(huán)境要素功效，包含溫度、環(huán)境濕度、工作電壓及光照等。

 

　　以上三種情況是導(dǎo)致鹽霧交變試驗(yàn)箱產(chǎn)生故障的主要原因，可以說電子元件的好壞直接關(guān)系到設(shè)備的質(zhì)量優(yōu)劣。